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產(chǎn)品型號
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2026-05-21 -
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產(chǎn)品描述
TF lab 2020非接觸式渦流薄膜電阻測試儀允許在非接觸模式下對導電薄膜進行手動單點測量和薄金屬層的層厚測量。 緊湊的臺式設(shè)備非常適合快速準確地測量最大 200 x 200 mm²(8 x 8 英寸)的樣品。 除了測量薄的導電層外,還可以分析摻雜的晶片和導電聚合物。
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